模擬高レベル廃棄物ガラス固化体の低流速浸出試験

清水 勇; 上薗 裕史

JAERI-M 86-070, 46 Pages, 1986/04

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模擬高レベル廃棄物ガラス個化体の合成地下水中等での底流速浸出試験を行った。試験は主にMCC-4法に従って行い、流速は0.1, 0.001, 0.001ml/min.の3通りに設定した。温度は70C、浸出時間は28日までとした。ガラス固体化の浸出量は一般に流速が高くなるほど多くなった。流速ゼロの静的浸出試験では、流速0.001ml/min.の場合と比較して浸出量が多い場合があり、特に進出液のPhが上昇しやすい場合にこの傾向を認めた。Na, B, Cs等の進出量は一般にSiの浸出量により多くなり、底流速浸出試験でもSi-richの表面層の生成が考えられた。使用した浸出液の中で、合成地下水は低い浸出率を与える傾向があり、浸出液中のイオオンの効果が無視できないと思われた。また、本実験の合成地下水中で浸出させたガラス個化体の表面変化は、別に行った実地下水中での変化と似ていることがわかった。